Taramalı elektron mikroskobunda - Scanning
Electron Microscope (SEM) yüksek voltajla hızlandırılmış elektronların
alüminyum stab üzerine yerleştirilmiş numune üzerine odaklanması ve numune
yüzeyinin taratılması sonucu üç boyutlu görüntü elde edilmesinde kullanılır.
Bunun yanı sıra EDAX işlemi yapılarak numunenin element içeriği de tespit
edilir. EDAX işlemi sırasında numunede bulunan elementin K, L ve M
kabuklarından kopan elektronların enerjisi hesaplanarak hangi element olduğu
hesaplanır.
Merkezimizde bulunan SEM FEI
Quanta 250 FEG marka / model olup;
Taramalı elektron mikroskobunda iletken örnekler, kaplama yapılmış yalıtkan örnekler, toz örnekler, ince filmler, biyolojik örnekler ve polimerler için görüntü alınabilir.
Kullanım alanları:
- Kan ve doku örneklerinin incelenmesi ve hastalığa sebep olan etkenlerin belirlenmesinde
- Adli tıp çalışmalarında
- Nanometre boyutlarındaki yapıların görüntülenmesinde
- Soğuk ve sıcak gibi farklı koşullarda metallerin dayanaklığının belirlenmesinde
- Güvenlik nedeniyle güçlü bir metal kullanımı gerektiren uçak, tren, gemi ve otomobil gibi araçların yapımında kullanılan metallerin dayanaklığının belirlenmesinde
- Biyoloji alanında bitki ve hayvan dokularının incelenmesinde
- Kimya alanında mikroskobik kristalleri; metallerin, plastiklerin ve seramiklerin yapısının incelenmesinde kullanılmaktadır.
Analizler sırasında dikkat edilmesi gereken hususlar;
Görüntü almak isteyen kişilerin mutlaka analiz sırasında SEM de bulunması gerekmektedir.
Numuneler kesinlikle nemli olmamalı, temiz olmalı, ayrıca gerektiğinde parça çıkartmak için sulu veya susuz kesime uygun olmalı ve kesim veya taban tıraşlaması esnasında dağılmamalıdır.
Düşük vakum koşulları altında kaplama yapılmamış numuneler de alınabilir.
Zeolit gibi gözenekliliği fazla olan numuneler en az bir gün süre ile vakum altında tutulacağından ilgili laboratuara birkaç gün önceden gönderilmelidir.
Mikro fosil numuneleri için numunelerin hazırlanması sorumluluğu analizi talep eden kişiye aittir.
Numuneler alındığı yeri (sahayı) ve/veya amaçlanan çalışmayı en iyi temsil edebilecek şekilde numune yüzeyinde tarama yapılmalıdır.
Sem de görüntü almak istenen numune için uygun ve okunaklı yazılmış etiket bulunmalıdır. Her bir etikette, numunenin cinsi ve analiz için gerekli olan bilgiler yer almalıdır.
Aynı numunede birden fazla analiz/test yapılacaksa, yapılacak analizlerin türüne ve sayısına göre örnek büyüklüğü arttırılmalıdır.
Numuneler uygun bir şekilde getirilmelidir.
Quanta FEG 250
SEM (Scanning Electron Microscope) Laboratuvarı