Taramalı
kuvvet mikroskobunun bir çeşidi olan atomik kuvvet mikroskobu (AKM) yüksek çözünürlüklü bir mikroskoptur.
Bu çözünürlük bizi nano ölçekli dünyaya götürmektedir ki AKM ile ulaşılan çözünürlük nanometre ölçeğinde olup optik tekniklerden en az 1000
kat fazladır. Aynı zamanda nano boyutta görüntüleme, ölçme ve malzeme işleme alanlarında
kullanılan en gelişmiş araçlardan da biridir.
AKM’nin
bilinen diğer mikroskoplardan farkı ise; optik bir mikroskopta cismi gerçekten
görebilirken, atomik kuvvet mikroskobunda cismin ya da yüzeyin nasıl olduğunu
gösteren bir resim görebilirsiniz. Bu demektir ki, gerçek anlamda bir atomu
göremeyip ancak atomların nasıl dizildiğini görebileceğimizdir.
Atomik
kuvvet mikroskobu esnek bir maniveladan ve
yüzeyi taramak için kullanılan sivri bir uçtan oluşur. Manivela genellikle (Si) silikon ya
da (Si3N4) silikon nitrür’den oluşmaktadır.
Laboratuvarımızda bulunan Park
System XE-100 AFM modeli atomik kuvvet mikroskobu ile nano yapıların
elektriksel ve manyetik özelliklerinin elde edilmesinde, nano yapıların mekanik
özelliklerinin tayininde, yüzey topografisi hakkında bilgi elde edilmesinde ve
daha birçok alanda bu mikroskop işlev görmektedir.
Kullanım alanları:
- Hücrenin mekanik özelliklerinin araştırılmasında
- Nano yapılı malzemelerin gerçek görüntülenmesinde
- Nano boyutlarda elektriksel ölçümlerde
- Yüzeylere nano boyutlarda yapılar çizmede
- Nano boyutlarda manyetik ölçümlerde kullanılmaktadır.
Park System XE-100 AFM
AFM (Atomic Force Microscope) Laboratuvarı