AFM (Atomic Force Microscope) Laboratuvarı

Taramalı kuvvet mikroskobunun bir çeşidi olan atomik kuvvet mikroskobu (AKM) yüksek çözünürlüklü bir mikroskoptur. Bu çözünürlük bizi nano ölçekli dünyaya götürmektedir ki AKM ile ulaşılan çözünürlük nanometre ölçeğinde olup optik tekniklerden en az 1000 kat fazladır. Aynı zamanda nano boyutta görüntüleme, ölçme ve malzeme işleme alanlarında kullanılan en gelişmiş araçlardan da biridir.

AKM’nin bilinen diğer mikroskoplardan farkı ise; optik bir mikroskopta cismi gerçekten görebilirken, atomik kuvvet mikroskobunda cismin ya da yüzeyin nasıl olduğunu gösteren bir resim görebilirsiniz. Bu demektir ki, gerçek anlamda bir atomu göremeyip ancak atomların nasıl dizildiğini görebileceğimizdir.